簡要描述:鐵電材料綜合測試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))、強場介電、熱釋電系數(shù)、因數(shù)及機電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊,也可實現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測試;配合高低溫測試環(huán)境同時可以測量不同環(huán)境溫度下的材料參數(shù)。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 北京華測 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子,航天,電氣 |
鐵電材料綜合測試系統(tǒng)
優(yōu)點
可測量壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù);
測量壓電材料介電-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試;
可測量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測試
它可測量壓電陶瓷的因數(shù)及機電耦合系數(shù)
可選配不同的測試裝置進行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測試
本儀器可配合高壓放大器實現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測
HCTD-2000x
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品簡介
鐵電材料綜合測試系統(tǒng)既可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)(靜態(tài))、強場介電、熱釋電系數(shù)、因數(shù)及機電耦合系數(shù)等;如增加高壓放大器模塊,也可實現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測試;配合高低溫測試環(huán)境同時可以測量不同環(huán)境溫度下的材料參數(shù)。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。為一體的綜合測試系統(tǒng)。
設(shè)備內(nèi)置完整的工控計算機主機、測試版路、運算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等,包括工控計算機主板、CPU(i3 或以上)、RAM(4G 或以上)、硬盤(120G 固態(tài)硬盤)、網(wǎng)卡、USB 接口、VGA 接口、預(yù)裝Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀測試軟件等。
鐵電模塊測試功能
鐵電模塊標準測試功能:
動態(tài)電滯回線測試頻率(0.001Hz~150kHz);
脈沖測試:min脈沖寬度2μs,小上升時間1μs;
疲勞測試:max頻率300kHz;
保持力測試;
靜態(tài)電滯回線測試;
印跡測試;
漏電流測試:1pA to 1A。
高壓放大器模塊參數(shù)
高壓電源:DC~150kHz
輸出電壓: 1600Vp-p(±800Vp)(可選)
輸出電流:40mA
輸出波形:正弦波、三角波、梯形波等
壓電模塊測試功能
電容-電壓曲線、損耗曲線;
壓電測試(蝴蝶曲線、d33 曲線);
熱釋電測試;
e31、h31 測試;
靜態(tài)加載力條件下的測試;
測量范圍(D33):2至4000pC/N
測試頻率:20HZ-10M;
測試精度:0.05%
測量參數(shù):Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac
施力裝置:約4公斤
電滯回線和蝴蝶曲線
典型的PZT樣品的d33曲線
薄膜探針臺
(室溫測試)(可用于薄膜和厚膜室溫鐵電測試)
薄膜變溫探針臺
(室溫到200℃)(可用于厚膜鐵電、壓電(d33)、熱釋電測試)
薄膜四探針探針臺
(室溫到200℃)(可用于厚膜鐵電、壓電(e31)、熱釋電測試)
薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺
(-196℃到+600℃)(可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測試)
壓電常數(shù)測試原理
1、5-加壓裝置絕緣座;2、4-加壓裝置引出電極; 3-試樣; c-并聯(lián)電容器 F3 -試加試樣上的力; K- 短路開關(guān);6、靜電計
熱釋電系數(shù)測試原理
1、冰點;2、熱電偶;3、屏蔽溫度室;4、試樣;5、絕緣保溫層;6、積分電容;7、靜電計;8、函數(shù)分析儀;9、加熱器;10、絕緣支架;11、絕緣油
高壓放大器
輸出形式:差分輸出
輸出帶寬:DC~150kHz
大輸出電壓:1600Vp-p(±800Vp)
大輸出電流:40mAp
大輸出功率:32W
選擇TREK高壓放大器
Trek 610E
電壓范圍±10kV
電流范圍0-2mA
大頻率600Hz
Trek 609E-6
電壓范圍±4kV
電流范圍0-20mA
max頻率6000Hz
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