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  • HCYD--800華測(cè) 壓電材料熱釋電系數(shù)測(cè)試儀
    HCYD--800華測(cè) 壓電材料熱釋電系數(shù)測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-04-03

    型號(hào):HCYD--800

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    華測(cè) 壓電材料熱釋電系數(shù)測(cè)試儀除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性外,還具有壓電。壓電陶瓷經(jīng)過極化處理之后,就具有了各向異性,每項(xiàng)參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。
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  • 測(cè)固體絕緣材料的漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀
    測(cè)固體絕緣材料的漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間:2024-10-16

    型號(hào):

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    測(cè)固體絕緣材料的漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制,通過人機(jī)對(duì)話方式,完成對(duì)絕緣介質(zhì)材料的工頻電壓擊穿,工頻耐壓試驗(yàn)。適用于對(duì)固體絕緣材料(如:絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、薄膜復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等)在工頻電壓下?lián)舸╇妷海瑩舸?qiáng)度和耐電壓的測(cè)試。儀器對(duì)實(shí)驗(yàn)過程中的各種數(shù)據(jù)快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行采集、處理、存取、顯示、打印。
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  • 絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/電路板測(cè)試
    絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/電路板測(cè)試

    更新時(shí)間:2023-08-29

    型號(hào):

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    絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/電路板測(cè)試配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng),可連續(xù)監(jiān)測(cè),高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。適用標(biāo)準(zhǔn):JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
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  • 低耗能高溫閃燒試驗(yàn)儀器
    低耗能高溫閃燒試驗(yàn)儀器

    更新時(shí)間:2023-08-22

    型號(hào):

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    低耗能高溫閃燒試驗(yàn)儀器具有耐高溫、耐酸耐堿等優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用。然而,陶瓷材料的制備通常需要很高的燒結(jié)溫度,消耗大量能源,生產(chǎn)成本較高,是限制其廣泛應(yīng)用的一個(gè)主要原因。為了降低陶瓷的生產(chǎn)成本和獲得優(yōu)異的陶瓷,人們采取了一系列措施。
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  • 華測(cè)-高溫快速爐測(cè)試儀器
    華測(cè)-高溫快速爐測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-29

    型號(hào):

    瀏覽量:1666

    華測(cè)-高溫快速爐測(cè)試儀器-高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐,原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱,加熱與降溫速度慢,效率低下,加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象
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  • HC6630頻譜/阻抗分析儀  /介電常數(shù)
    HC6630頻譜/阻抗分析儀 /介電常數(shù)

    更新時(shí)間:2024-08-26

    型號(hào):HC6630

    瀏覽量:2619

    頻譜/阻抗分析儀 /介電常數(shù)可在不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量。其等效電路分析功能支援7種不同的參數(shù)模型(三元件、四元件),可協(xié)助客戶模擬元件的等效參數(shù)值。
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  • TF Analyzer 3000功能材料電學(xué)測(cè)試 鐵電壓電分析儀
    TF Analyzer 3000功能材料電學(xué)測(cè)試 鐵電壓電分析儀

    更新時(shí)間:2024-06-13

    型號(hào):TF Analyzer 3000

    瀏覽量:3027

    功能材料電學(xué)測(cè)試 鐵電壓電分析儀,是一款擴(kuò)展性較高速型模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料基本特性測(cè)試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
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  • 華測(cè)-鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)
    華測(cè)-鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2024-06-04

    型號(hào):

    瀏覽量:1496

    華測(cè)-鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究為一體的綜合測(cè)試系統(tǒng)。
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