簡要描述:靜電系d33測(cè)量儀器采用利用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器,為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用激振器,以實(shí)現(xiàn)振動(dòng)頻率。電荷采用高阻放電荷放大器。以保證測(cè)試數(shù)據(jù)的精度。本儀器適合科研院所研究壓電材料儀器。
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產(chǎn)品介紹
壓電陶瓷除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性外,還具有壓電。壓電陶瓷經(jīng)過極化處理之后,就具有了各向異性,每項(xiàng)參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同,這就使得壓電陶瓷的參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。
可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的,同時(shí)也直接影響著換能器的參數(shù)。另外,通過d33還可以導(dǎo)出其他參數(shù),如靈敏度g33等。由于同一批材料的壓電陶瓷參數(shù)具有很大的離散度,故測(cè)量壓電陶瓷的d33是很有必要的。影響d33測(cè)試精度和穩(wěn)定性的因素有很多,主要考慮以下因素:壓力是否全部加于試樣,壓力的方向是否與試樣極化軸平行,測(cè)試電極是否平整和相互平行,受力和產(chǎn)生感應(yīng)電效應(yīng)的面積是否相等,壓力釋放瞬間是否有試樣抖動(dòng)等。另外,測(cè)試線路的絕緣狀況、電容和輸入阻抗等參數(shù)也對(duì)此有影響。華測(cè)設(shè)計(jì)了一種保持了動(dòng)態(tài)法測(cè)量參數(shù)多、精度高的特點(diǎn);避免了人工操作繁瑣、計(jì)算費(fèi)時(shí)的不足,拓寬了動(dòng)態(tài)法的應(yīng)用范圍。
G精度壓電系數(shù)d33測(cè)試儀,其分辨率可達(dá)0.01pC/N,采用多種測(cè)量模式,在測(cè)量壓電系數(shù)的同時(shí),可記錄d31,d15,電容、電量、tan8等參數(shù),并也可計(jì)算g33、介電常數(shù)和ET33等??蓮V泛用于鐵電、壓電材料以及相關(guān)器件的評(píng)價(jià)與測(cè)試。
靜電系d33測(cè)量儀器采用利用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器,為激振器提供穩(wěn)定頻率。采用激振器,以實(shí)現(xiàn)振動(dòng)頻率。電荷采用采用高阻放電荷放大器。以保證測(cè)試數(shù)據(jù)的精度。靜電系d33測(cè)量儀器適合科研院所研究壓電材料的儀器。
符合標(biāo)準(zhǔn):
GB3389.4-82《 d33 壓電陶瓷材料測(cè)試方法 縱向壓電應(yīng)變常數(shù) 的靜態(tài)測(cè)試》
GB/T3389.5-1995《壓電陶瓷材料測(cè)試方法 圓片厚度伸縮振動(dòng)模式》
GB/T3389.4-1982《壓電陶瓷材料測(cè)試方法 柱體縱向長度伸縮振動(dòng)模式》
GB/T 3389.7-1986《壓電陶瓷材料測(cè)試方法 強(qiáng)場(chǎng)介電的測(cè)試》
GB/T3389.8-1986《壓電陶瓷材料測(cè)試方法 熱釋電系數(shù)的測(cè)試》
GB T 3389-2008 《壓電陶瓷材料測(cè)試方法》
技術(shù)參數(shù)
縱向壓電系數(shù)d33測(cè)試范圍:
高范圍:10 to 4000pC/N,精度士2%±1pC/N,負(fù)載1.0uF;
低范圍:1 to 100pC/N,精度士2%±0.1pC/N,負(fù)載1.0uF;
頻率范圍:10Hz to 2MHz,步進(jìn):1Hz,
極性顯示:正負(fù)
施加力范圍0.1~0.5N
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