在不同溫度下半導體材料的電阻變化-熱刺激電流試驗儀

熱刺激電流試驗儀是一種用于測量材料在不同溫度下的電阻變化關(guān)系的儀器。熱刺激電流試驗儀可以用于研究和開發(fā)新材料，以及評估現(xiàn)有材料的性能。例如，在電子行業(yè)中，這種儀器可以用于測試半導體材料的導電性能，以及研究材料在高溫或jiduan環(huán)境下的性能變化。

需要注意的是，使用熱刺激電流試驗儀需要具備一定的專業(yè)知識和操作技能，以確保測試結(jié)果的準確性和可靠性。同時，在操作儀器時，需要注意安全事項，如避免高溫燙傷、避免電流過大等。

華測HTSC-2000熱激勵電流試驗儀，采用冷臺的方式進行加溫與制冷，測量引用使用低噪聲線纜，減少測試導線的影響，同時電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。具有強大測試功能，設備較大支持測試電壓10kV，同時測試功能上也增加了高阻測試、擊穿測試、也方便擴展介電譜等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進行連續(xù)和高速的測量，可用一臺HC-TSC2000熱刺激電流測試儀就能取代功能材料測試眾多儀器的測量功能！

優(yōu)勢：

支持的硬件：
外置6517B或其它高壓直流電源
外置的高壓放大器（+/-100V到+/-10 kV）
塊體陶瓷樣品夾具
溫度控制器和溫度腔

測試功能：
熱釋電測試
漏電流測試
用戶定義激勵波形